水准仪集安

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简述信息一览：

• 1、仪准探针台

仪准探针台

1、从晶圆制造到封装，经过WAT测试、CP测试（探针台和测试机的联合作业）和FT测试，确保每一片芯片的质量。1 WAT测试在晶圆厂完成，CP和FT则在封装厂进行，严格的测试包括显微镜等精密仪器，探针台和测试机的配合。

2、通过严谨的数据收集和分析，WAT不仅能实时监控生产质量，还能预警和纠正任何工艺偏差，确保产品质量的稳定交付。WAT测试系统，如图所示，由精密的测试机柜、测试头和探针台构成。测试机柜集成了高性能仪表和PC控制系统，测试头内嵌有高级开关矩阵和高精度源表接口，而探针台则负责精确定位和载入/卸载晶圆。

3、塞贝克系数（Seebeck Coefficient）是衡量材料在一定温差下产生的热电压的参数。它在研究热电材料时扮演重要角色。测量塞贝克系数主要通过两种方法：恒流法和闭环法、开路法等。在恒流法中，准备热电偶，利用两种不同材料的导线。将一个节点置于高温，另一个置于低温，使其产生热电动势。

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